一种基于FPGA的高速误码测试仪的设计-科通芯城100%正品保证

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一种基于FPGA的高速误码测试仪的设计

方案： 8IF0A1
标签： xilinx,FPGA,数控系统
类别： 工业控制

方案设计图方案关键器件表方案描述

方案设计图：

方案关键器件表：

类型	型号	厂商	说明
FPGA	XC6VCX75T-1FFG784	Xilinx	误码测试仪应用

方案描述：

误码测试仪是检测通信系统可靠性的重要设备。传统的误码测试仪，基于CPLD和CPU协同工作，不仅结构复杂，价格昂贵，而且不方便携带。基于FPGA的告诉误码测试仪，采用FPGA来完成控制和测试模块的一体化设计，提高了系统功能扩展性和系统的集成度，使得各个功能模块在不改动硬件电路的情况下可以相应变化。在发送端发送M序列作为测试数据，其测试速度最高可达到155MB/S。由于将其物理层上的各种协议层得功能集中到FPGA内部实现，减少了硬件和软件的复杂度，并且缩短了系统的开发周期，具有可生气的特点。